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flag स्कोल्टेक वैज्ञानिकों ने केवल एक सूक्ष्मदर्शी छवि का उपयोग करके फाइबर सामग्री की छिद्रता को मापने का एक तेज़, सटीक तरीका बनाया, जिससे लागत कम हुई और वास्तविक समय में औद्योगिक गुणवत्ता नियंत्रण संभव हुआ।

flag स्कोल्टेक शोधकर्ताओं ने केवल एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप छवि का उपयोग करके रेशेदार सामग्री की छिद्रता को मापने के लिए एक विधि विकसित की है, जिससे 3.5 प्रतिशत औसत त्रुटि प्राप्त हुई है। flag फाइबर परतों में परिप्रेक्ष्य प्रभावों और चमक भिन्नताओं का विश्लेषण करके, तकनीक महंगी माइक्रोटोमोग्राफी के बिना 3 डी सरंध्रता का अनुमान लगाती है। flag यह छवि प्रीप्रोसेसिंग, फिजी के रिज डिटेक्शन के माध्यम से फाइबर डिटेक्शन और सांख्यिकीय गहराई मॉडलिंग का उपयोग करता है, जो मेडिकल नैनोफाइबर और एयरोस्पेस कंपोजिट जैसी सामग्रियों के लिए काम करता है। flag यह दृष्टिकोण वास्तविक समय में गुणवत्ता नियंत्रण को सक्षम बनाता है और औद्योगिक स्वचालन के लिए उपयुक्त है।

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