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स्कोल्टेक वैज्ञानिकों ने केवल एक सूक्ष्मदर्शी छवि का उपयोग करके फाइबर सामग्री की छिद्रता को मापने का एक तेज़, सटीक तरीका बनाया, जिससे लागत कम हुई और वास्तविक समय में औद्योगिक गुणवत्ता नियंत्रण संभव हुआ।
स्कोल्टेक शोधकर्ताओं ने केवल एक ऑप्टिकल माइक्रोस्कोप छवि का उपयोग करके रेशेदार सामग्री की छिद्रता को मापने के लिए एक विधि विकसित की है, जिससे 3.5 प्रतिशत औसत त्रुटि प्राप्त हुई है।
फाइबर परतों में परिप्रेक्ष्य प्रभावों और चमक भिन्नताओं का विश्लेषण करके, तकनीक महंगी माइक्रोटोमोग्राफी के बिना 3 डी सरंध्रता का अनुमान लगाती है।
यह छवि प्रीप्रोसेसिंग, फिजी के रिज डिटेक्शन के माध्यम से फाइबर डिटेक्शन और सांख्यिकीय गहराई मॉडलिंग का उपयोग करता है, जो मेडिकल नैनोफाइबर और एयरोस्पेस कंपोजिट जैसी सामग्रियों के लिए काम करता है।
यह दृष्टिकोण वास्तविक समय में गुणवत्ता नियंत्रण को सक्षम बनाता है और औद्योगिक स्वचालन के लिए उपयुक्त है।
Skoltech scientists created a fast, accurate way to measure fiber material porosity using just one microscope image, reducing costs and enabling real-time industrial quality control.